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基于扫频技术的散射测量微波暗室设计

放大字体  缩小字体 更新日期:2018-05-07  浏览次数:6
摘 要:传统微波暗室的考核指标是静区场均匀性,对于散射测量来说,这个指标并不能决定测量结果的准确性。在扫频测量系统的基础上,提出一种新的散射测量微波暗室优化设计目标――降低目标区背景噪声。分析了矩形微波暗室中
  • 【题 名】基于扫频技术的散射测量微波暗室设计
  • 【作 者】赵京城 洪韬 梁沂
  • 【机 构】北京航空航天大学电子信息工程学院 北京100191 海军装备研究院舰船论证研究所 北京100161
  • 【刊 名】《宇航学报》2009年 第2期 730-734页 共5页
  • 【关键词】散射测量 微波暗室 扫频技术 背景噪声
  • 【文 摘】传统微波暗室的考核指标是静区场均匀性,对于散射测量来说,这个指标并不能决定测量结果的准确性。在扫频测量系统的基础上,提出一种新的散射测量微波暗室优化设计目标――降低目标区背景噪声。分析了矩形微波暗室中有用信号和干扰信号的分布,指出了两者的不同特征。在理论分析的基础上,提出了降低目标区干扰信号的微波暗室设计方法。最后,给出了在这种设计思想指导下,实际建设的散射测量微波暗室目标区性能指标,其目标区背景噪声比同类普通矩形微波暗室低10dB以上。
 
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  • (1) 散射测量,微波暗室,扫频技术,背景噪声
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