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嵌入式变频扫描分析仪的设计

放大字体  缩小字体 更新日期:2018-11-23  浏览次数:0
摘 要:在设计开发,电路维修等领域,经常要测量电子元器件或电路模块的频率响应特性,而现有的测试仪器大多价格昂贵或是体积庞大,不能满足大多数用户的需求;针对以上问题,提出了一种基于ARM@Cortex-M3内核
  • 【题 名】嵌入式变频扫描分析仪的设计
  • 【作 者】鲍丽星 陈晓争
  • 【机 构】南京航空航天大学(将军路校区)电丁电子实验中心 江苏南京211100 南京熊猫集团 江苏南京210002
  • 【刊 名】《计算机测量与控制》2011年 第3期 722-724页 共4页
  • 【关键词】ARM 扫描分析仪 A动测试
  • 【文 摘】在设计开发,电路维修等领域,经常要测量电子元器件或电路模块的频率响应特性,而现有的测试仪器大多价格昂贵或是体积庞大,不能满足大多数用户的需求;针对以上问题,提出了一种基于ARM@Cortex-M3内核单片机的嵌入式变频扫描分析仪;该仪器频率扫描速度可达到0.09ms/频点,频率范围可达到1MHz--100MHz,分辨率可达到100Hz;具有低成本、小型化和多功能等特点;用户可以直接在该仪器上修改并设置工作参数以满足各种不同的测试需求,同时该仪器还可以通过USB接口与计算机相连,并能够整合到其他自动测控系统中,实现自动测试功能。
 
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