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微透镜阵列的计量标准化

放大字体  缩小字体 更新日期:2018-11-23  浏览次数:4
摘 要:分析了连续表面微透镜阵列的几何参量和光学性能的检测方法,介绍了最新的ISO14480系列标准。针对典型的微镜阵列元件,给出其详细结构尺寸,从而建立了一套通过测试元件的几何参量、加工误差来综合评估微光学
  • 【题 名】微透镜阵列的计量标准化
  • 【作 者】胡凯 蒋向前 刘晓军
  • 【机 构】华中科技大学机械学院仪器系 武汉430074 哈德斯菲尔德大学 英国哈德斯菲尔德HD1 3DH
  • 【刊 名】《计量技术》2009年 第9期 13-16页 共4页
  • 【关键词】微光学元件 检测 几何参数
  • 【文 摘】分析了连续表面微透镜阵列的几何参量和光学性能的检测方法,介绍了最新的ISO14480系列标准。针对典型的微镜阵列元件,给出其详细结构尺寸,从而建立了一套通过测试元件的几何参量、加工误差来综合评估微光学元件性能的方法。
 
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