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支持向量机在小子样IC可靠性评估中的应用

放大字体  缩小字体 更新日期:2018-11-26  浏览次数:1
摘 要:在实际的电子元器件可靠性评估中,通常会遇到小样本的限制,无法满足传统的基于大样本的评估方法的假设.有鉴于此,文中提出了基于支持向量机的小子样元器件可靠性评估方法.该方法通过对元器件失效时间的训练,选择
  • 【题 名】支持向量机在小子样IC可靠性评估中的应用
  • 【作 者】邹心遥 姚若河
  • 【机 构】华南理工大学电子与信息学院 广东广州510640
  • 【刊 名】《华南理工大学学报:自然科学版》2009年 第1期 23-26页 共4页
  • 【关键词】可靠性 集成电路 支持向量机 栅氧化层 最小二乘法
  • 【文 摘】在实际的电子元器件可靠性评估中,通常会遇到小样本的限制,无法满足传统的基于大样本的评估方法的假设.有鉴于此,文中提出了基于支持向量机的小子样元器件可靠性评估方法.该方法通过对元器件失效时间的训练,选择最优的核函数及核参数建立支持向量机模型,利用建立的模型得到拟合直线,从而进行可靠性参数评估.将该方法应用于栅氧化层击穿寿命分布的评估中,可获得比基于大样本的最小二乘评估方法更高的评估精度.
 
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  • (1) 可靠性,集成电路,支持向量机,栅氧化层,最小二乘法
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